涵蓋了低倍到高倍觀察，并配有多種觀察方法可以迅速發現觀察對象。
可以完成低倍到高倍的大范圍倍率觀察。不僅如此，*光學技術打造的光學顯微鏡帶來多種觀察方法，可以容易的發現觀察對象。此外，對于光學顯微鏡難以找到的觀察對象，還可以使用激光顯微鏡進行觀察。在激光微分干涉（DIC） 
觀察中，可以進行納米級微小凹凸的實時觀察。

明視場觀察（IC元件）

微分干涉（DIC）觀

激光微分干涉（DIC）觀察

縮短從放置樣品到獲取影像的工作時間。
放置好樣品后，所有的操作都在1臺裝置上完成。可以迅速，正確的把觀察對象移到SPM顯微鏡下面，所以只要掃描1次就能獲取所需的SPM影像。


一體機的機型，所以無需重新放置樣品只要在1臺裝置上切換倍率、觀察方法就能夠靈活應對新樣品。

OLS4500是把光學顯微鏡、激光顯微鏡、探針顯微鏡融于一體的一體機，所以無需重新放置樣品，即可自由切換3種顯微鏡進行觀察和評價。這3種顯微鏡各自持有優異的性能，所以能夠高效輸出*結果。



OLS4500實現了無縫觀察和測量




【發現】可以迅速發現觀察對象

使用光學顯微鏡的多種觀察方法， 迅速找到觀察對象
OLS4500采用了白色LED光源， 可以觀察到顏色逼真的高分辨率彩色影像。它裝有4種物鏡， 涵蓋了低倍到高倍的大范圍觀察。OLS4500充分發揮了光學觀察的特長， 除了*常使用的明視場觀察（BF）以外， 還可以使用對微小的凹凸添加明暗對比， 達到視覺立體效果的微分干涉觀察（DIC）， 以及用顏色表現樣品偏光性的簡易偏振光觀察。此外， OLS4500上還配有HDR功能（高動態范圍功能）， 該功能使用不同的曝光時間拍攝多張影像后進行合成， 來顯示亮度平衡更好、強調了紋理的影像。在OLS4500上您可以使用多種觀察方法迅速找到觀察對象。

BF 明視場
*常使用的觀察方法。在觀察中真實再現樣品的 
顏色。適用于觀察有明暗對比的樣品。

DIC 微分干涉
對于在明視場觀察中看不到的樣品的微小高低差， 
添加明暗對比使之變為立體可視。適用于觀察金 
相組織、硬盤和晶圓拋光表面之類鏡面上的傷痕 
或異物等。

簡易偏振光
照射偏振光（有著特定振動方向的光線）， 使樣 
品的偏光性變為肉眼可視。適用于觀察金相組織、礦物、半導體材料等。

HDR 高動態范圍
使用不同曝光時間拍攝多張影像并進行影像合成， 
可以觀察平衡度較好的明亮部分和陰暗部分。此 
外，還可以強調紋理（表面狀態），進行更精細的 
觀察。




使用激光顯微鏡，可以觀察到光學顯微鏡中難以觀察到的樣品影像
OLS4500采用了短波長405 nm的激光光源和高N.A.的物鏡， 實現了優異的平面分辨率。能以鮮明的影像呈現出光學顯微鏡中無法看到的觀察對象。在激光微分干涉（DIC）模式中還可以實時觀察納米級的微小凹凸。

明視場觀察（玻璃板上的異物）

激光微分干涉觀察







【接近】迅速發現觀察對象，在SPM上正確完成觀察
實現了無縫觀察，不會丟失觀察對象
OLS4500在電動物鏡轉換器上裝配了涵蓋低倍到高倍觀察的4種物鏡， 以及小型SPM單元。在光學顯微鏡或激光顯微鏡的50倍、100倍的實時觀察中， 由于SPM掃描范圍一直顯示于視場中心， 所以把觀察目標點對準該位置后， 只要切換到探針顯微鏡， 就能夠正確接近觀察對象。因此， 只需1次SPM掃描就能獲取目標影像， 從而能夠提高工作效率并降低微懸臂的損耗。


不會在SPM觀察中迷失的、可切換式向導功能

使用探針顯微鏡開始觀察之前， 可以在向導畫面上設置所需的條件， 如安裝微懸臂、掃描范圍等。所以經驗較少的操作者也能安心完成操作。







【納米級測量】簡單操作，可以迅速獲得測量結果
新開發的小型SPM測頭， 減少了影像瑕疵

新開發的小型SPM測頭
OLS4500采用了裝在電動物鏡轉換器上的物鏡型SPM測頭。同軸、共焦配置了物鏡和微懸臂前端，所以切換SPM觀察時不會丟失觀察目標點。不僅如此，新開發的小型SPM測頭提高了剛性，所以與傳統產品相比，減少了影像瑕疵并提高了可追蹤性。






使用向導功能，自由放大SPM影像
使用向導功能， 可以觀察時進一步放大探針顯微鏡拍到的影像的所需部分倍率。只要在影像上用鼠標指針設置放大范圍并掃描， 就可以獲取所需的SPM影像。可以自由設置掃描范圍， 所以大幅度提高了觀察和測量的效率。

向導功能在10μm×10μm影像上放大3.5μm×3.5μm范圍

優異的分析功能， 應對各種測量目的

曲率測量（硬盤的傷痕）
OLS4500能夠根據您的測量目的分析在各種測量模式中獲取的影像，并以CSV格式輸出測量結果。OLS4500有以下分析功能。
?
截面形狀分析（曲率測量、夾角測量）
?
?
粗糙度分析
?
?
形態分析（面積、表面積、體積、高度、柱狀值、承載比）
?
?
評價高度測量（線、面積）
?
?
粒子分析（選項功能）
?






跟從向導畫面的指示， 可輕松操作的6種SPM測量模式

接觸模式
控制微懸臂與樣品之間作用的排斥力為恒定的同時， 使微懸臂進行靜態掃描， 在影像中呈現樣品的高度。還可以進行彎曲測量。


金屬薄膜





動態模式
使微懸臂在共振頻率附近振動， 并控制Z方向的距離使振幅恒定， 從而在影像中呈現樣品高度。特別適用于高分子化合物之類表面柔軟的樣品及有粘性的樣品。




鋁合金表面






相位模式
在動態模式的掃描中， 檢測出微懸臂振動的相位延遲。可以在影像中呈現樣品表面的物性差。


高分子薄膜





電流模式
對樣品施加偏置電壓，檢測出微懸臂與樣品之間的電流并輸出影像。此外，還可以進行I/V測量。



Si電路板上的SiO2圖案樣品。高度影像（左）中顯示為黃色的部分是SiO2。在電流影像（右）中顯示 為藍色（電流不經過的部分）。通過上圖，可以明確電路板中也存在電流不經過的部分。







表面電位模式（KFM）
使用導電性微懸臂并施加交流電壓， 檢測出微懸臂與樣品表面之間作用的靜電， 從而在影像中呈現樣品表面的電位。也稱作KFM（Kelvin Force Microscope）。


磁帶樣品。在電位影像中可以看出數百mV的電位差分布于磁帶表面。這些電位差的分布，可以認為 
是磁帶表面的潤滑膜分布不均勻。






磁力模式（MFM）
在相位模式中使用磁化后的微懸臂進行掃描， 檢測出振動的微懸臂的相位延遲， 從而在影像中呈現樣品表面的磁力信息。也稱作MFM（Magnetic Force Microscope）。


硬盤表面樣品。可以觀察到磁力信息。






裝配了激光掃描顯微鏡，靈活應對多種樣品

輕松檢測85°尖銳角
采用了有著高N.A. 的物鏡和光學系統（能*限度發揮405 nm 激光性能），LEXT OLS4500 可以地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品。

LEXT 物鏡

有尖銳角的樣品（剃刀）





高度分辨率10 nm，輕松測量微小輪廓
由于采用405 nm的短波長激光和更高數值孔徑的物鏡， OLS4500達到了0.12 μm的平面分辨率。因此， 可以對樣品的表面進行亞微米的測量。結合高精度的光柵讀取能力和奧林巴斯獨有的亮度檢測技術， OLS4500可以分辨出亞微米到數百微米范圍內的高度差。此外， 激光顯微鏡測量還保證了測量儀器的兩大指標——“正確性”（測量值與真正值的接近程度）和“重復性”（多次測量值的偏差程度）的性能。

0.12μm行間距

高度差標準類型B, PTB-5, Institut für Mikroelektronik, Germany, 6 nm高度測量中的檢測







從大范圍拼接影像中目標區域
高倍率影像容易使視場范圍變小，而通過設置，OLS4500的拼接功能*多可以拼接625幅影像，從而能夠獲得高分辨率的大范圍視圖數據。不僅如此，還可以在該大范圍視圖上進行3D顯示或3D測量。

主機 規格
LSM部分 光源、檢出系統 光源：405 nm半導體激光、檢出系統：光電倍增管
倍率 108～17,280X
變焦 光學變焦：1～8X
測量 平面測量 重復性 100x : 3σn-1=0.02μm、50x：3σn-1=0.04μm、20x：3σn-1=0.1μm
正確性 測量值的±2%以內
高度測量 方式 物鏡轉換器上下驅動方式
行程 10mm
內置比例尺 0.8nm
移動分辨率 10nm
顯示分辨率 1nm
重復性 100x :σn-1= 0.012μm、50x：σn-1＝0.012μm、20x：σn-1＝0.04μm
正確性 0.2+L/100 μm以下（L＝測量長度）
彩色觀察部分 光源、檢出系統 光源：白色LED、檢出系統：1/1.8英寸200萬像素單片CCD
變焦 碼變焦：1～8X
物鏡轉換器 6孔電動物鏡轉換器
微分干涉單元 微分干涉滑片：U-DICR、內置偏振光片單元
物鏡 明視場平面半消色差透鏡5X LEXT平面復消色差透鏡20X、50X、100X
Z對焦部分行程 76 mm
XY載物臺 100 x 100 mm（電動載物臺）
SPM部分 運行模式 接觸模式、動態模式、相位模式、電流模式*、表面電位模式（KFM）*、磁力模式（MFM）*
位移檢出系統 光杠桿法
光源 659 nm半導體激光
檢出設備 光電檢測器
*掃描范圍 X-Y：* 30 μm x 30 μm、Z：* 4.6 μm
安裝微懸臂 在盒式微懸臂支架上一鍵安裝。使用微懸臂安裝位置調整工裝夾具預對位，更換支架時無需光學調整。
系統 重量 約440 kg（不包含電腦桌）
I額定輸入 100－120 V/220－240 V、600 VA、50/60 Hz