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金屬電鍍層測厚儀EDX600PLUS
鍍層測厚儀是一種基于能譜分析法的物理分析工具。當樣品受到X射線照射時,鍍層或基材中的原子會被激發,進而釋放出各自特有的X射線。不同元素的特征X射線具有不同的性質。探測器捕捉到這些特征X射線后,會將其光信號轉化為模擬電信號。經過模擬數字轉換器,這些模擬電信號被轉換為數字信號,并傳輸至計算機進行進一步處理。計算機使用專門的軟件,根據采集到的譜峰信息,通過數據處理來確定樣品中元素的種類及其相應的鍍層厚度。
它能夠測量常見金屬的鍍層厚度,無需對樣品進行任何預處理;分析所需時間非常短,通常只需幾十秒便可獲得不同金屬鍍層的厚度;測量的動態范圍也很廣,涵蓋從0.005μm到60μm。
鍍金測厚儀具有快速、簡單和實用的特點,廣泛用于測量鍍層厚度和電鍍液的濃度。
儀器介紹
技術指標
設備:金屬電鍍層測厚儀
型號:Thick800A
外形尺寸為:寬576毫米×深495毫米×高545毫米。
樣品室的尺寸為:寬500毫米、深350毫米、高140毫米。
樣品臺的尺寸為:寬230毫米,深210毫米。
Z軸升降平臺的升降范圍為0到140毫米。
平臺的移動測量范圍為:寬度50毫米,深度500毫米,高度135毫米。
分析方法:兼容FP法和EC法的能量色散X射線熒光分析技術。
鍍金測厚儀Thick800A是一款廣泛使用的能量色散型X射線熒光光譜儀,配備了高分辨率的薄鈹窗固態探測器,分辨率達到139eV,處于國際水平。該儀器采用上照式設計,具備多重輻射防護裝置和X射線發生器,確保輻射劑量符合國際安全標準。樣品觀察系統配備了CCD攝像頭、數字多道分析器、激光定位技術以及研發的測厚分析軟件,形成了鍍金測厚儀的標準配置。
優點簡述
這款鍍層儀器專門為電子半導體、金屬電鍍、印刷電路板、飾品手表及檢測機構等行業量身定制。它配備了可調節的XYZ三個方向和位置的樣品觀察系統,以及激光定位功能,使檢測過程更加高效便捷。此外,該儀器擁有大的測試內部空間,優良的散熱性能和抗電磁干擾能力,模塊化結構設計使得安裝、調試和維護變得更加容易,能夠適應惡劣的工作環境。
電鍍的應用領域
鐵基材料包括以下幾種:□Fe/Zn,□Fe/Cu,□Fe/Ni,□Fe/Cu/Sn,□Fe/Cu/Au,□Fe/Cu/Ni,□Fe/Cu/Ni/Cr,□Fe/Cu/Ni/Au,以及□Fe/Cu/Ni/Ag。
銅基材料包括以下幾種組合:□銅/鎳,□銅/銀,□銅/黃金,□銅/錫,□銅/鎳/錫,□銅/鎳/銀,□銅/鎳/黃金,□銅/鎳/鉻。
鋅基材料——□Zn/Cu,□Zn/Cu/Ag,□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金———□鋁/銅,□鋁/鎳,□鋁/銅/銀,□鋁/銅/金
塑料基質——塑料/Cu/Ni,塑料/Cu/Ni/Cr
測量標準
標準 GB/T 16921-2005 / ISO 3497:2000
PCB鍍層測厚儀采用X射線光譜技術來測量金屬涂層的厚度。
2.美標A754/A754M-08 標準
利用X射線熒光法測定鋼材表面金屬涂層的涂層質量。
應用優勢
快速:對一個樣品的測量時間僅需10至60秒,樣品可以保持原樣或僅經過簡單處理。
無損測量:采用物理手段進行測量,樣品的特性不會受到影響。
可以對樣品進行檢測。
4.直觀性:譜圖分析清晰易懂,元素的分布一目了然,定性分析的速度較快。
5環保:檢測過程中不會產生任何廢氣和廢水。

