BX51-P是利用偏光識別樣品的不同特性的高級偏光系統顯微鏡。適用于各向同性、各向異性材料的鑒別，廣泛應用于礦物、化工產品，醫學、植物學等分析。除偏光觀察外，還可以進行大范圍的光程差測量，而且，可與中間鏡筒、數碼相機以及BXiS系列的部件相組合，進一步提高了系統性能。兼具優異光學性能和系統性能的偏光觀察的高級機型。